Everspin自成立長期以來一直是MRAM產品開發(fā)的領導者，向市場展示了其28nm單機1Gb STT-MRAM芯片。everspin在磁存儲器設計，制造和交付給相關應用方面的知識和經驗在半導體行業(yè)中是獨一無二的。Everspin擁有超過600項有效專利和申請的知識產權組合，在平面內和垂直磁隧道結（MTJ）STT-MRAM位單元的開發(fā)方面處于市場領先地位。本文主要介紹描述了圖1所示的具有28nm CMOS的1Gb 1.2V DDR4 STT-MRAM的產品化和優(yōu)異的性能，是產品其能夠在-35C至110C的工業(yè)溫度范圍內使用。

圖1. Everspin 40nm 1.5nm DDR3 256 Mb（頂部）和1.2V DDR4 28nm 1 Gb（底部）STT-MRAM產品的俯視圖。
 
MRAM器件主要由兩個BEOL金屬層之間的磁性可編程電阻器實現，如下列的圖2所顯示。


圖2顯示了1 Gb陣列中的pMTJ位以及芯片的BEOL金屬化中的相鄰邏輯區(qū)域的集成。
 
磁隧道結（MTJ）由具有高垂直磁各向異性的固定磁層，MgOx隧道勢壘及自由磁層組成。施加臨界電壓后，自旋極化電子的電流通過MgOx隧穿勢壘而將自由層的極化翻轉為平行或反平行磁狀態(tài)，分別顯示了對讀取電流的低電阻或高電阻。自由層還可以針對不同的應用進行優(yōu)化。在寫入的過程中，未觀察到回跳或切換的異常，這可以表明從-35C到110C的工業(yè)應用溫度范圍，切換可靠性的窗口比較大。DIMM循環(huán)表明耐久性壽命大于2e11個循環(huán)的周期。圖3則顯示了溫度對數據保存的影響，數據在85℃的情況下可保存10年，而在100℃下僅保存3個月。
 
圖3.一組1Gb裸片的數據保留（DR）烘烤的失效時間與溫度的關系。實線擬合表示在85°C情況下為10年的DR，在100°C情況下為3個月的DR。

everspin STT-MRAM  1Gb型號規(guī)格

Density	Org.	Part Number	Speed	Temp Rating	Package	Pack/Ship	Status
1Gb	128Mb x8	EMD4E001G08G1-150CAS1	667MHz	Commercial	78-BGA	Tray	CS
1Gb	128Mb x8	EMD4E001G08G1-150CAS1	667MHz	Commercial	78-BGA	Tape & Reel	CS
1Gb	64Mb x16	EMD4E001G16G2-150CAS1	667MHz	Commercial	96-BGA	Tray	CS

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http://m.t5582.com/list-306-1.html#product_brand

本文關鍵詞：everspin    STT-MRAM

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